系统级辐射效应多层级模拟方法研究

围绕复杂电子系统级辐射效应仿真评估问题，给出一套器件-电路-系统的多层级辐射效应模拟方法。针对系统级封装芯片、图像传感器系统及通讯收发器系统等典型宇航、军用电子体系，建立辐射效应分级分析、诊断与评估方法。结合器件辐射损伤规律与电路辐射响应特征，完成多层级仿真数据分析，覆盖各类辐射效应的传递过程。通过多层级效应溯源，精准识别各类电子系统的辐射敏感电路节点与薄弱链路，明确辐射损伤的传递机制。该方法弥补了单层级仿真覆盖不全、定位不准的缺陷，可实现复杂电子系统辐射效应定量评估，为器件及整机系统的抗辐射加固设计与可靠性提升提供技术支撑。

贺朝会，西安交通大学教授，博士生导师，教育部新世纪优秀人才，International Journal of Advanced Nuclear Reactor Design and Technology (JANDT)编委，《原子能科学技术》编委，《核科学与技术》编委，中国核学会核测试与分析分会常务理事、辐射物理分会理事、核化学与放射化学分会环境放射化学专业委员会委员，中国仿真学会集成微系统建模与仿真专业委员会委员，中国电子学会高级会员，中国宇航学会会员，曾任中国核学会核电子学与核探测技术分会理事，获部级科技进步一等奖（排名第一）1项、三等奖2项，陕西高等学校科学技术研究优秀成果（排名第一）1项，主持国家自然科学基金重点项目和JCJQ课题等，发表论文200多篇，出版学术专著2本。